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張經(jīng)理：
陳經(jīng)理：
葉經(jīng)理：
王經(jīng)理：
| ICT | FVT | |
| 是否需要上電開(kāi)機(jī)測(cè)試 | 不需要為待測(cè)電路板上電就可以測(cè)試，可避免電路板燒毀的風(fēng)險(xiǎn)。之后欲執(zhí)行低階程試測(cè)試時(shí)再上電。 | 必須上電才可以測(cè)試，有可能因?yàn)榱慵搪吩斐呻娐钒鍩龤А?/td> |
| 是否需要測(cè)試點(diǎn) | 全部使用測(cè)試點(diǎn)來(lái)進(jìn)行測(cè)試，但是可以使用結(jié)點(diǎn)(Nets)來(lái)降低測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量。 | 僅需要部分測(cè)試點(diǎn)，或使用實(shí)插的方式連結(jié)IO設(shè)備(顯示器、網(wǎng)線或讀卡機(jī)) |
| 不良品除錯(cuò)容易度 | 只要有測(cè)試點(diǎn)，可以精確指出來(lái)哪個(gè)零件或哪個(gè)結(jié)點(diǎn)有問(wèn)題，方便作業(yè)員修理不良板。 | 無(wú)法精確告知哪個(gè)零件有問(wèn)題，只能憑經(jīng)驗(yàn)或是聘請(qǐng)專業(yè)的修復(fù)技工修理不良板。 |
| 旁路電路測(cè)試能力 | 只要有測(cè)試點(diǎn)，旁路電路也可以測(cè)試。 | 除非可以模擬特殊狀況，否則旁路電路難以測(cè)試確認(rèn)品質(zhì)。 |
| Short/Open test for all of the nets.(針對(duì)結(jié)點(diǎn)或零件作開(kāi)短路測(cè)試) | 只要有測(cè)試點(diǎn)就可以針對(duì)所有的零件或結(jié)點(diǎn)作開(kāi)短路測(cè)試測(cè)試。 | 只能透過(guò)上電開(kāi)機(jī)來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品功能。 |
| Components for L, C,R,D,Tr(量測(cè)電感、電容、電阻、二極體、電晶體的特性值) | 只要有測(cè)試點(diǎn)，可以量測(cè)到所有的被動(dòng)元件特性。 | 只能透過(guò)上電開(kāi)機(jī)來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品功能。如果有錯(cuò)件或是特性跑掉，不一定可以偵測(cè)出來(lái)。 |
| 主動(dòng)元件 (IC)的特性量測(cè) | 可以使用測(cè)試點(diǎn)量測(cè)，或是利用JTAG或TestJet以減少測(cè)點(diǎn)。 | 透過(guò)上電開(kāi)機(jī)來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品功能。 |
| Measuring Frequency, Voltage. (量測(cè)頻率及電壓) | 可以。 | 可以。 |
| Performing the Function test. (執(zhí)行功能測(cè)試) | 可以執(zhí)行低階的功能自我測(cè)試，只能檢測(cè)大部份的功能，但無(wú)法如FVT實(shí)際查看螢?zāi)伙@示是否正常，IO的讀取是否確實(shí)，因?yàn)椴皇菍?shí)插測(cè)試 | 使用測(cè)試點(diǎn)或?qū)嵅蹇梢詫⑺械墓δ軠y(cè)試過(guò)一次，但只能測(cè)試正常情況下的功能。 |
| 測(cè)試時(shí)間 | 一般來(lái)說(shuō)一片板子一分鐘內(nèi)可以測(cè)試完畢，甚至短到10秒鐘以內(nèi)。 | 一般來(lái)說(shuō)一片板子可能得花上好幾分鐘才可以測(cè)試完成，因?yàn)橛胁糠萑藶椴僮鳠o(wú)法避免。 |
| 是否需要先下載測(cè)試程式 | 不需要下載測(cè)試程式就可以執(zhí)行開(kāi)短路及被動(dòng)元件特性測(cè)試，如果要執(zhí)行低階程式測(cè)試則需事先安裝或下載。 | 需要事先下載作業(yè)系統(tǒng)及測(cè)試程式才可以開(kāi)機(jī)測(cè)試。 |
| 是否支援OTG下載程式 | 可以下載作業(yè)系統(tǒng)或程式到電路版的記憶體中) | 支援。 |
| ICT+5%FVT sampling | NO ICT+100%FVT | |
| Short/Open test for all the nets | 20s | 0 |
| Components for L,C,R,D, Tr | 0 | |
| Measuring Frequency, Voltage | 30s | |
| Performing the Function as FVT | 35s | 245s |
| Loading OS | 35s | |
| Additional 5% FVT sampling | 12s | 0 |
| Total Testing Time | 67s | 310s |
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Dollar charge by Factory (Support US$10/hour) |
US$0.186 | US$0.861 |
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Monthly spend (Support 100,000 output per moth) |
US$18,600.000 | US$86,100.000 |
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100%ICT+ 5%抽樣FVT |
無(wú)ICT+ 100%FVT |
金額差異 | |
| ICT或FVT的治具費(fèi)用 | 153,000 | 53,000 | |
| 電路板測(cè)試每個(gè)月的花費(fèi)金額 | 18,600 | 86,100 | |
| 第一個(gè)月治具費(fèi)用+測(cè)試工時(shí)費(fèi)用 | 171,600 | 139,100 | 32,500 |
| 第二個(gè)月治具費(fèi)用+測(cè)試工時(shí)費(fèi)用 | 190,200 | 225,200 | -35,000 |
| 第三個(gè)月治具費(fèi)用+測(cè)試工時(shí)費(fèi)用 | 208,800 | 311,300 | -102,500 |
| 第四個(gè)月治具費(fèi)用+測(cè)試工時(shí)費(fèi)用 | 227,400 | 397,400 | -170,000 |
| 第五個(gè)月治具費(fèi)用+測(cè)試工時(shí)費(fèi)用 | 246,000 | 483,500 | -237,500 |
| 第六個(gè)月治具費(fèi)用+測(cè)試工時(shí)費(fèi)用 | 264,600 | 569,600 | -305,000 |
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